專利名稱：量測裝置與量測方法（中華民國發明專利第I472754號）

專利授權與讓售

	年度(國民年)(Year)：104

	核准國家(Country)：中華民國

	專利名稱(Title)：量測裝置與量測方法

	證書號碼(Number)：I472754

	專利類型(Type)：發明

	專利期間(Term)：2015-02-11~2032-11-27

摘要 (Abstract)
	一種量測裝置及量測方法，用以量測織物對微氣候空間的溫度效應。量測裝置包括基座、隔板、升降機構以及溫度感測器。基座具有內部空間與開口。開口連通內部空間與外部環境。織物適於配置於開口以阻隔內部空間與外部環境。隔板設置在基座內以分隔內部空間，其中基座、隔板與織物之間形成微氣候空間。升降機構組裝在基座與隔板之間，以調整隔板與織物之間的距離。溫度感測器設置在微氣候空間內，以感測微氣候空間的溫度。