專利名稱：光學檢測器與其檢測方法（中華民國發明專利第I532987號）

專利授權與讓售

	年度(國民年)(Year)：105

	核准國家(Country)：中華民國

	專利名稱(Title)：光學檢測器與其檢測方法

	證書號碼(Number)：I532987

	專利類型(Type)：發明

	專利期間(Term)：2016-05-11~2034-07-10

摘要 (Abstract)
	一種光學檢測器包含紗線導引裝置、反射鏡組、第一光源、第一光學模組、第二光源、第二光學模組以及控制器。紗線導引裝置用以導引紗線。反射鏡組包含第一反射鏡與第二反射鏡，分別用以反射光線至紗線。第一光源用以提供第一光線投射至第一反射鏡，第一光線經第一反射鏡反射後，沿第一方向通過紗線。第二光源用以提供第二光線投射至第二反射鏡，第二光線經第二反射鏡反射後，沿第二方向通過紗線。控制器連接於第一光學模組與第二光學模組，用以判斷紗線是否有瑕疵。